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GT2100A_数字IC测试仪产品简介: GT2100A 数字集成电路测试仪，利用多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。数字集成电路多参数测试仪GT.. |
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GT2200A_模拟IC测试仪产品简介: GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于多种单运放、多运放和电压比较器的测量。功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各.. |
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ICT-33C_IC测试仪产品简介:*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。 *器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型。 *器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 *器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、.. |
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ICT-33C+_IC测试仪产品简介:器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功.. |
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lp-1_IC测试仪产品简介:1． 为测试数字 IC而设计 2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/443． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置 5． 平均测试时间：0.8秒 规格2． 测试元件接脚数：14到24PIN选择配件： *SOP adaptor 支.. |
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lp-2_IC测试仪特色:1.为测试线性 IC而设计 2.可测元件：OP、Operationgal Amplifiers、OPTO、Comparattors、REG、N555 Series、Transistor Array 3.轻小可携带、操作容易，可使用电池，非常省电，碱性电池可连续使用1000小时 4.平均测试时间：0.8秒5.设有empty-load测试及设有自动电源.. |
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shtek2400晶闸管综合参数测试仪产品简介：一、概述：shtek2400型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定。本仪器的设计兼顾了SJ1105-76半导体闸流管断态和反向伏安特性的测.. |
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