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BM8500电路板故障检测仪
同步脉冲信号的应用,可以查看分立器件-三端器件

同步脉冲信号的应用,可以查看分立器件-三端器件

同步脉冲信号的应用,可以查看分立器件-三端器件(时间特性),可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.测试时将设定好的方波同步到测试信号中,可以观测到三端器件开关时间特性的差异
ABI测试案例
英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告

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英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告;测试时间:2011-06-30;测试结果:通过;测试元件型号:16C554;测试设备:英国ABI-AT256;
ABI测试案例
某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告;Device:008;Package:14 pin DIL narrow;Scan Profile:Low V Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:18 October 2011;
ABI测试案例
深圳捷顺6LB184测试报告

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深圳捷顺6LB184测试报告,Device:1509-50;Package:8 pin DIL narrow;Scan Profile:Copy of Normal Digital;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:28 July 2011;
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深圳捷顺RC530测试报告

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深圳捷顺RC530测试报告,Device:122;Package:32 pin DIL wide;Scan Profile:Copy of Normal Digital Overall Result:SUCCESS;Operator:Administrator;Report Date:28 July 2011;
ABI测试案例
ADG506A数模混合集成电路好坏对比结果

ADG506A数模混合集成电路好坏对比结果

ADG506A数模混合集成电路好坏对比结果;IC型号:ADG506A IC描述:8-/16-Channel的CMOS模拟多路复用器Device:AD506;Package:28 pin DIL wide;Scan Profile:Normal Analogue;Overall Result:FAIL;Operator:Administrator;Report Date:22 October 2011;
ABI测试案例
英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

测试时间:2011-06-30;测试结果:失败;测试元件型号:16C554;测试设备:英国ABI-AT256;
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